Microelectronic Engineering SCIE

國際簡稱：MICROELECTRON ENG 參考譯名：微電子工程

主要研究方向：工程技術-工程：電子與電氣非預警期刊審稿周期：約6.0個月

《微電子工程》(Microelectronic Engineering)是一本由Elsevier出版的以工程技術-工程：電子與電氣為研究特色的國際期刊，發表該領域相關的原創研究文章、評論文章和綜述文章，及時報道該領域相關理論、實踐和應用學科的最新發現，旨在促進該學科領域科學信息的快速交流。該期刊是一本未開放期刊，近三年沒有被列入預警名單。

4區中科院分區
Q2 JCR分區
100 年發文量
2.6 IF影響因子
未開放 是否OA
89 H-index
1983 創刊年份
Monthly 出版周期
English 出版語言

Microelectronic Engineering is the premier nanoprocessing, and nanotechnology journal focusing on fabrication of electronic, photonic, bioelectronic, electromechanic and fluidic devices and systems, and their applications in the broad areas of electronics, photonics, energy, life sciences, and environment. It covers also the expanding interdisciplinary field of "more than Moore" and "beyond Moore" integrated nanoelectronics / photonics and micro-/nano-/bio-systems. Through its unique mixture of peer-reviewed articles, reviews, accelerated publications, short and Technical notes, and the latest research news on key developments, Microelectronic Engineering provides comprehensive coverage of this exciting, interdisciplinary and dynamic new field for researchers in academia and professionals in industry.

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Microelectronic Engineering期刊信息

ISSN：0167-9317
出版語言：English
是否OA：未開放
E-ISSN：1873-5568
出版地區：NETHERLANDS
是否預警：否
出版商：Elsevier
出版周期：Monthly
創刊時間：1983
開源占比：0.0341
Gold OA文章占比：15.94%
OA被引用占比：0.1274...
出版國人文章占比：0.14
出版撤稿占比：0
研究類文章占比：91.00%

Microelectronic Engineering CiteScore評價數據（2024年最新版）

CiteScore

SJR

SNIP

CiteScore 指數

5.3

0.503

0.847

學科類別	分區	排名	百分位
大類：Physics and Astronomy 小類：Condensed Matter Physics	Q2	127 / 434	70%
大類：Physics and Astronomy 小類：Atomic and Molecular Physics, and Optics	Q2	68 / 224	69%
大類：Physics and Astronomy 小類：Electrical and Electronic Engineering	Q2	242 / 797	69%
大類：Physics and Astronomy 小類：Electronic, Optical and Magnetic Materials	Q2	87 / 284	69%
大類：Physics and Astronomy 小類：Surfaces, Coatings and Films	Q2	42 / 132	68%

名詞解釋：CiteScore 是衡量期刊所發表文獻的平均受引用次數，是在 Scopus 中衡量期刊影響力的另一個指標。當年CiteScore 的計算依據是期刊最近4年（含計算年度）的被引次數除以該期刊近四年發表的文獻數。例如，2022年的 CiteScore 計算方法為：2022年的 CiteScore =2019-2022年收到的對2019-2022年發表的文件的引用數量÷2019-2022年發布的文獻數量注：文獻類型包括：文章、評論、會議論文、書籍章節和數據論文。

Microelectronic Engineering中科院評價數據

中科院 2023年12月升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
否	否	工程技術	4區	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用	4區 4區 4區 4區

中科院 2022年12月升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
否	否	工程技術	3區	OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技	3區 3區 4區 4區

中科院 2021年12月舊的升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
否	否	工程技術	3區	OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技	3區 3區 4區 4區

中科院 2021年12月基礎版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
否	否	工程技術	4區	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用	4區 4區 4區 4區

中科院 2021年12月升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
否	否	工程技術	3區	OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技	3區 3區 4區 4區

中科院 2020年12月舊的升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
否	否	工程技術	3區	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用	3區 3區 3區 3區

Microelectronic Engineering JCR評價數據（2023-2024年最新版）

按JIF指標學科分區	收錄子集	分區	排名	百分位
學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q2	157 / 352	55.5%
學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY	SCIE	Q3	94 / 140	33.2%
學科：OPTICS	SCIE	Q2	45 / 119	62.6%
學科：PHYSICS, APPLIED	SCIE	Q2	81 / 179	55%

按JCI指標學科分區	收錄子集	分區	排名	百分位
學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q3	179 / 354	49.58%
學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY	SCIE	Q3	74 / 140	47.5%
學科：OPTICS	SCIE	Q3	64 / 120	47.08%
學科：PHYSICS, APPLIED	SCIE	Q2	88 / 179	51.12%

Microelectronic Engineering歷年數據統計

影響因子

中科院分區

Microelectronic Engineering中國學者發文選摘

1、Investigation of trapping/de-trapping dynamics of surface states in AlGaN/GaN high-electron mobility transistors based on dual-gate structures
Author: Luan, Tiantian; Jiang, Qimeng; Huang, Sen; Wang, Xinhua; Jin, Hao; Guo, Fuqiang; Yao, Yixu; Fan, Jie; Yin, Haibo; Wei, Ke; Li, Yankui; Jiang, Haojie; Li, Junfeng; Liu, Xinyu

Journal: MICROELECTRONIC ENGINEERING. 2023; Vol. 269, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mee.2022.111916
2、Soybean-based memristor for multilevel data storage and emulation of synaptic behavior
Author: Wang, Lu; Li, Wenhao; Wen, Dianzhong

Journal: MICROELECTRONIC ENGINEERING. 2023; Vol. 267, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mee.2022.111911
3、La-doped BiFeO3 junction based random access multilevel nonvolatile memory
Author: Li, Dong; Zhu, Xiaodong; Wu, Yanan; Zhao, Jian; Zhang, Kaimin; Li, Rui; Hao, Danni; Ma, Yanqing; Moro, Ramiro; Ma, Lei

Journal: MICROELECTRONIC ENGINEERING. 2023; Vol. 267, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mee.2022.111908
4、A dual-mass fully decoupled MEMS gyroscope with optimized structural design for minimizing mechanical quadrature coupling
Author: Wu, Zhongye; Feng, Ronghui; Sun, Chengliang; Wang, Peng; Wu, Guoqiang

Journal: MICROELECTRONIC ENGINEERING. 2023; Vol. 269, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mee.2022.111918
5、Dynamical analysis, circuit implementation, and simultaneous application of a novel four-dimensional hyperchaotic system based on cosine functions
Author: Zhang, Jie; Hou, Jinyou; Xu, Longhao; Zhu, Xiaopeng; Xie, Qinggang

Journal: MICROELECTRONIC ENGINEERING. 2023; Vol. 271, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mee.2023.111939
6、Machine learning algorithm for the structural design of MEMS resonators
Author: Gu, Liutao; Zhang, Weiping; Lu, Haolin; Wu, Yuting; Fan, Chongyang

Journal: MICROELECTRONIC ENGINEERING. 2023; Vol. 271, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mee.2023.111950
7、The insight and evaluation of ultra-scaled sub-1 nm gate length transistors
Author: Tian, He; Shen, Yang; Yan, Zhaoyi; Liu, Yanming; Wu, Fan; Ren, Tian-Ling

Journal: MICROELECTRONIC ENGINEERING. 2023; Vol. 273, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mee.2023.111963
8、Simulation study of zone-height limit by electron beam lithography for 30 nm Fresnel zone plates in X ray optics
Author: Chen, Qiucheng; Mu, Chengyang; Tong, Xujie; Zhao, Jun; Wu, Qingxin; Chen, Yifang

Journal: MICROELECTRONIC ENGINEERING. 2023; Vol. 273, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mee.2023.111965